產品展示
SH系列雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用 于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。時間：2022-12-12型號：SH系列廠商性質：經銷商瀏覽量：129
FA(失效分析)專用激光探針臺系統 失效分析實驗室專用（芯片去層/線路或Pad切割與熔接電性能測試驗證）時間：2022-12-12型號：FA廠商性質：經銷商瀏覽量：221
光電流測試顯微鏡-探針臺系統是在金相顯微鏡基礎上導入另一路光源，用于輻照樣品以測試樣品在特定波長及能量下的電氣特性等測試目的。時間：2022-12-08型號：廠商性質：經銷商瀏覽量：126
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